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當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心三維光學(xué)輪廓儀布魯克ContourX-500布魯克環(huán)境與樣品準(zhǔn)備要求

布魯克環(huán)境與樣品準(zhǔn)備要求

產(chǎn)品簡介

ContourX-500布魯克環(huán)境與樣品準(zhǔn)備要求
為了獲得穩(wěn)定、準(zhǔn)確的測量結(jié)果,ContourX-500布魯克白光干涉測量系統(tǒng)對(duì)使用環(huán)境和待測樣品的狀態(tài)有一定要求。充分理解并滿足這些要求,是確保設(shè)備發(fā)揮最佳性能、延長使用壽命并獲得可靠數(shù)據(jù)的前提條件。

產(chǎn)品型號(hào):ContourX-500
更新時(shí)間:2025-12-15
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:12
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ContourX-500布魯克環(huán)境與樣品準(zhǔn)備要求

為了獲得穩(wěn)定、準(zhǔn)確的測量結(jié)果,ContourX-500布魯克白光干涉測量系統(tǒng)對(duì)使用環(huán)境和待測樣品的狀態(tài)有一定要求。充分理解并滿足這些要求,是確保設(shè)備發(fā)揮性能、延長使用壽命并獲得可靠數(shù)據(jù)的前提條件。
精密光學(xué)測量設(shè)備的性能發(fā)揮,與其所處的環(huán)境及被測樣品的準(zhǔn)備情況密切相關(guān)。ContourX-500布魯克雖設(shè)計(jì)具有一定的環(huán)境魯棒性,但優(yōu)化環(huán)境條件和規(guī)范的樣品準(zhǔn)備,能顯著提升測量數(shù)據(jù)的質(zhì)量、重復(fù)性和可比性。
環(huán)境要求方面:
  1. 振動(dòng)控制:白光干涉測量對(duì)微振動(dòng)敏感,尤其是垂直方向的振動(dòng)會(huì)直接影響干涉條紋的穩(wěn)定性,導(dǎo)致測量噪聲增大甚至失敗。建議將設(shè)備安裝在穩(wěn)固的防振平臺(tái)(如氣浮隔振臺(tái))上,并盡量遠(yuǎn)離振源(如大型設(shè)備、走廊、門窗)。


  2. 溫度穩(wěn)定性:溫度波動(dòng)會(huì)導(dǎo)致設(shè)備機(jī)械部件發(fā)生熱脹冷縮,影響掃描精度和重復(fù)性。同時(shí),樣品本身也可能因溫度變化而變形。理想的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境應(yīng)保持恒溫(如20±1°C或根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求),并避免設(shè)備受陽光直射或空調(diào)出風(fēng)口直吹。開機(jī)后應(yīng)預(yù)熱足夠時(shí)間,使設(shè)備內(nèi)部溫度達(dá)到平衡。


  3. 氣流與潔凈度:強(qiáng)烈的空氣流動(dòng)(如風(fēng)扇、人員頻繁走動(dòng))可能導(dǎo)致局部空氣密度變化,影響光路穩(wěn)定性。同時(shí),空氣中的塵埃若落在光學(xué)元件或樣品上,會(huì)干擾測量。建議在相對(duì)潔凈、氣流平緩的環(huán)境中使用,定期清潔設(shè)備外殼和樣品臺(tái)。


  4. 光照條件:強(qiáng)烈的環(huán)境光(尤其是閃爍的日光燈)可能會(huì)被探測器接收,干擾干涉信號(hào)。通常在暗室或關(guān)閉室內(nèi)強(qiáng)光條件下測量效果更佳,或使用設(shè)備配套的遮光罩。


  5. 電力供應(yīng):穩(wěn)定的電源有助于電子系統(tǒng)(特別是光源和相機(jī))穩(wěn)定工作。建議使用穩(wěn)壓電源或UPS,避免電壓波動(dòng)和意外斷電。


樣品準(zhǔn)備要求方面:
  1. 清潔度:樣品表面必須清潔,無灰塵、指紋、油污、水漬或其他污染物。污染物不僅會(huì)遮擋真實(shí)表面,其自身高度也會(huì)被測量進(jìn)去,導(dǎo)致錯(cuò)誤結(jié)果。通常需使用無塵布、丙酮、乙醇或?qū)S们鍧崉┻M(jìn)行清潔,對(duì)于精密部件可能需要超聲清洗。


  2. 固定與放置:樣品必須穩(wěn)固地固定在樣品臺(tái)上,確保測量過程中無任何移動(dòng)。對(duì)于小樣品,需使用合適的夾具或黏土;對(duì)于重或大樣品,需確保樣品臺(tái)承重足夠且平衡。樣品表面應(yīng)盡可能水平放置,以減少因大傾斜帶來的測量區(qū)域損失和數(shù)據(jù)處理復(fù)雜度。


  3. 反射率適應(yīng)性:白光干涉需要樣品表面有足夠的反射光信號(hào)。對(duì)于高反射表面(如鏡面金屬),可能需要降低光源強(qiáng)度或使用偏振片來避免信號(hào)飽和。對(duì)于低反射表面(如黑色橡膠、深色陶瓷),可能需要噴涂一薄層提高反射率的材料(如金粉或白色顯像劑),但需注意這會(huì)改變原始表面形貌,僅適用于某些定性或?qū)Ρ葴y量。


  4. 透明與多層樣品:對(duì)于透明材料(如玻璃、薄膜)或多層結(jié)構(gòu),來自上下界面的反射光會(huì)產(chǎn)生干擾信號(hào)。可能需要在其背面涂黑或使用折射率匹配液來抑制背面反射,或采用設(shè)備專門的多層膜分析模式。


  5. 表面特性考量:對(duì)于非常粗糙(散射嚴(yán)重)或有大傾角/深溝槽的表面,可能會(huì)因光線無法返回探測器而導(dǎo)致數(shù)據(jù)缺失??赡苄枰獓L試使用不同數(shù)值孔徑(NA)的物鏡,或采用多角度測量策略。


  6. 尺寸與形狀:確保樣品尺寸和重量在設(shè)備標(biāo)稱的載物臺(tái)行程和承重范圍內(nèi)。對(duì)于超出視場的大樣品,需使用軟件的拼接功能。


建立標(biāo)準(zhǔn)化的樣品準(zhǔn)備和環(huán)境監(jiān)控程序,并將其作為測量SOP(標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程)的一部分,是實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)現(xiàn)場獲得一致、可靠測量結(jié)果的最佳實(shí)踐?;〞r(shí)間做好這些準(zhǔn)備工作,往往能事半功倍,避免因環(huán)境或樣品問題導(dǎo)致的測量失敗或數(shù)據(jù)失真,從而ContourX-500布魯克的投資回報(bào)。

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