澤攸ZEM20掃描顯微鏡核心用材與工藝

澤攸?ZEM20 以緊湊結(jié)構(gòu)、可靠真空系統(tǒng)、靈活的自動化功能以及完善的維護體系，能夠滿足材料科學、能源、生命科學等多領(lǐng)域的微觀表征需求。通過上述六篇技術(shù)文章，您可以快速了解其硬件構(gòu)成、成像性能、材料工藝、操作要點、環(huán)境適配以及典型應用場景，為實驗室選型與日常使用提供系統(tǒng)參考。

• 真空腔：6061?T6 鋁合金經(jīng)硬質(zhì)陽極氧化（厚度 35?µm），顯微硬度 380?HV，放氣率 4.5?×?10???Pa·L·s?1·cm?2。

• 磁屏蔽筒：1J79 坡莫合金，壁厚 2?mm，μr?>?40?000，磁場抑制至 <?3?nT，像散畸變 <?0.2?%。

• 電纜：50?kV 級硅膠絕緣線，外覆不銹鋼網(wǎng)屏蔽，彎曲半徑 ≥?40?mm，耐 10? 次彎曲。

• 信號線：PTFE 隔離 Litz 線，40?kHz 掃描時交流電阻下降 18?%。

• 密封件：Viton A O?ring，放氣率 1?×?10???Pa·L·s?1·cm?2，壽命 ≥?2?年。

材料參數(shù)概覽