BEUKER三維光學(xué)輪廓儀教學(xué)科研入門級工具

產(chǎn)品簡介

BEUKER三維光學(xué)輪廓儀教學(xué)科研入門級工具
在高校基礎(chǔ)科研實驗室與職業(yè)教育機(jī)構(gòu)，布魯克 ContourX-100 三維光學(xué)輪廓儀以高性價比與易操作性，成為微觀測量教學(xué)與入門級科研的理想選擇。

產(chǎn)品型號：ContourX-100

更新時間：2025-10-21

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：201

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀布魯克三維光學(xué)輪廓儀

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在高?；A(chǔ)科研實驗室與職業(yè)教育機(jī)構(gòu)，布魯克 ContourX-100 三維光學(xué)輪廓儀以高性價比與易操作性，成為微觀測量教學(xué)與入門級科研的理想選擇。

產(chǎn)品細(xì)節(jié)

ContourX-100 設(shè)計極簡，機(jī)身尺寸 450mm×350mm×400mm，重量 8kg，可輕松搬運(yùn)至不同教室。操作界面為基礎(chǔ)按鍵式，無復(fù)雜菜單，搭配圖文操作手冊，學(xué)生能自主學(xué)習(xí)操作。樣品臺為開放式設(shè)計，無遮擋結(jié)構(gòu)，便于觀察樣品與鏡頭的相對位置，理解測量原理；臺面帶坐標(biāo)刻度，幫助掌握樣品定位方法。設(shè)備光學(xué)系統(tǒng)為固定焦距設(shè)計，無需頻繁對焦調(diào)試；光源為 LED 冷光源，壽命長且不發(fā)熱，不會影響樣品溫度。機(jī)身側(cè)面有透明觀察窗，可直觀看到內(nèi)部光學(xué)部件工作狀態(tài)，便于講解設(shè)備結(jié)構(gòu)。

產(chǎn)品性能

ContourX-100 采用白光干涉技術(shù)，可測量表面粗糙度 Ra 值 0.05-20μm 的樣品，如金屬薄片、玻璃載玻片。測量數(shù)據(jù)重復(fù)性較好，不同學(xué)生測量同一樣品的結(jié)果差異小，適合對比實驗。測量速度適中，單次小區(qū)域（300μm×300μm）掃描約 3-5 分鐘，能讓學(xué)生充分觀察測量過程。配套教學(xué)版軟件，包含數(shù)據(jù)采集、基礎(chǔ)分析功能，可導(dǎo)出數(shù)據(jù)至 Excel，滿足教學(xué)報告撰寫需求。

用材講究

外殼采用高強(qiáng)度 ABS 塑料，能承受學(xué)生操作中的輕微碰撞。光學(xué)鏡頭選用普通光學(xué)玻璃，滿足基礎(chǔ)測量需求，損壞后更換方便。樣品臺臺面為耐磨酚醛樹脂板，長期使用不易刮花。內(nèi)部電路模塊化設(shè)計，某一部件故障可單獨(dú)更換，降低維修成本。

參數(shù)詳情

參數(shù)項	具體數(shù)值
橫向分辨率	最高可達(dá) 1μm
縱向分辨率	低至 5nm
縱向測量范圍	5nm-3mm
樣品臺尺寸	80mm×80mm
樣品臺調(diào)節(jié)方式	手動旋鈕（X/Y 軸）
光源類型	LED 冷光源（壽命＞10000 小時）
數(shù)據(jù)接口	USB 2.0
設(shè)備重量	8kg
工作溫度	18-30℃
相對濕度	25%-65%（無冷凝）

廣泛用途

在高校材料科學(xué)基礎(chǔ)實驗中，用于 “材料表面粗糙度測量" 實驗，理解加工工藝對表面的影響；在職業(yè)教育機(jī)電實訓(xùn)中，檢測機(jī)械零件的表面質(zhì)量，理解公差概念；在中學(xué)科技社團(tuán)，觀察樹葉、昆蟲翅膀的微觀形貌，激發(fā)興趣；在入門級科研中，用于新材料初步測試，如檢測新型涂層的厚度均勻性。

使用說明

放置在水平無振動實驗臺，避免強(qiáng)光照射。連接電源與電腦，安裝教學(xué)版軟件并完成連接。學(xué)生清潔樣品后放在樣品臺，通過旋鈕移動樣品臺，參考刻度對準(zhǔn)測量區(qū)域。選擇 “快速測量" 模式，設(shè)置掃描范圍，點擊 “開始"。教師可結(jié)合實時成像講解白光干涉原理，測量后學(xué)生導(dǎo)出數(shù)據(jù)撰寫報告。實驗后學(xué)生關(guān)閉電源，用干布擦拭樣品臺，鏡頭有灰塵用專用紙輕擦。教師每學(xué)期檢查設(shè)備光學(xué)部件，每學(xué)年更換老化光源。

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